A 루프를 형성하기 위해 두 개의 서로 다른 도체 또는 반도체 A와 B가 있을 때 두 노드의 온도가 다른 한 끝 또는 핫 엔드 작업이라고 하는 T의 끝 온도는 다른 쪽에서 연결됩니다. 자유단(기준면이라고도 함) 또는 콜드 엔드로 알려진 끝 온도 T0, 회로는 기전력을 생성하며 기전력의 방향 및 크기는 도체 재료 및 두 접점의 온도와 관련됩니다. .이 현상을 열전 효과라고 하며, "열전대"로 알려진 두 종류의 전도체 회로는 "고온" 전극이라고 하는 두 개의 전도체로 구성되며, 기전력을 "열전 기전력"이라고 합니다.
열전 emfs는 기전력의 두 부분으로 구성되며, 두 부분은 도체 접촉 기전력, 다른 부분은 온도차 기전력의 단일 도체입니다.
열전대 루프 열전 emfs의 크기는 두 접점의 온도와 관련된 열전대 도체 재료의 구성에만 영향을 미치며 열전대의 모양 크기와는 아무런 관련이 없습니다.열전대가 두 개의 전극 재료를 고정한 후 접촉 온도 t와 열전기 기전력은 두 t0입니다.기능이 좋지 않습니다.
이 방정식은 실제 온도 측정에 널리 적용되었습니다.콜드 엔드 t0 상수로 인해 열전대 열전 emfs에 의해 생성된 핫 엔드 온도의 측정(측정)만 다르므로 열전 emfs는 특정 온도에 해당합니다.열전 기전력을 측정하는 방법을 사용하는 한 온도 측정의 목적을 달성할 수 있습니다.
열전대 온도 측정은 폐쇄 루프 전도체 재료 구성의 두 가지 다른 성분의 기본 원리입니다. 온도 구배가 양쪽 끝에 있을 때 루프는 전류가 통과하고 양 끝의 기전력 사이에 존재합니다 - 열전 EMF , 이것이 이른바 제벡 효과(Seebeck effect)이다.균질 도체 전극의 두 가지 다른 구성 요소는 열로, 온도는 끝 부분에서 작동하기 위해 더 높고, 낮은 온도의 한쪽 끝은 자유 끝으로, 일반적으로 일정한 온도에서 자유 끝입니다.온도의 함수로서 열전 기전력에 따라, 열전쌍 인덱싱 테이블;인덱싱 테이블은 서로 다른 인덱싱 테이블이 있는 서로 다른 열전대의 조건에서 0℃의 자유단 온도입니다.
써모커플 루프에 접근할 때 제3 금속 재료, 두 개의 접점이 같은 온도의 재료인 한, 열전쌍 열전기에 의해 생성된 재료는 동일하게 유지되도록 설정되며, 이는 루프에서 제3 금속 액세스에 의해 영향을 받지 않습니다.따라서 열전대 온도 측정 시 측정 기기에 연결할 수 있으며 열전 emfs를 측정한 후 측정된 매체의 온도를 알 수 있습니다.열전쌍 측정 온도는 콜드 엔드(핫 엔드에 대한 측정 엔드, 측정 회로에 연결된 리드의 끝을 냉접점이라고 함) 온도는 일정하게 유지되며, 열전위의 크기와 측정된 온도는 일정한 비율의 관계에 있습니다.측정 시 냉단부 온도 변화(환경)는 측정 정확도에 심각한 영향을 미칩니다.냉접점 보상에 조치를 취하면 냉접점 온도 변화의 영향으로 열전대 냉접점 보상이라고 하는 것이 정상입니다.특수 보상 도체로 측정기에 연결됩니다.
열전쌍 냉접점 보상 계산 방법:
밀리볼트에서 온도로: 해당 밀리볼트 값, 열전쌍을 사용한 밀리볼트 값, 온도 변환에 대한 콜드 엔드 온도 및 변환을 측정합니다.
온도에서 밀리볼트까지: 밀리볼트 값을 뺀 후 실제 온도와 콜드 엔드 온도를 측정하고 각각 밀리볼트 값으로 변환, 빠른 온도.
게시 시간: Dec-04-2020